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SPM600系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑，實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求
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2024-05-20
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超快熒光測試系統FLIM 顯微熒光壽命成像技術（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一種在顯微尺度下展現熒光壽命空間分布的技術，由于其不受樣品濃度影響，具有其他熒光成像技術無法代替的優異性能，目前在生物醫學工程、光電半導體材料等領域是一種重要的表征測量手段。
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2024-05-20
5032
Omni-λ750i系列“影像譜王”光柵單色儀/光譜儀雙出口可同時配置兩個CCD；
Omni-λ750i系列
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2024-05-20
4162
Omni-λ500i系列“影像譜王”光柵單色儀/光譜儀采用C-T結構設計，采用超環面影像校準設計；
Omni-λ500i系列
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2024-05-20
3624
Omni-λ300i系列“影像譜王”光柵單色儀/光譜儀的控制(如光柵轉換、波長掃描等)全部由計算機控制，并用 USB2.0接口取代傳統的RS-232接口，不僅使儀器的連接更加簡單化，更極大提高了通訊速率；
Omni-λ300i系列
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2024-05-20
4421
Omni-λ200i系列“影像譜王”光柵單色儀/光譜儀雙光柵塔臺設計，覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍，即插即用，只需零級校正，實驗操作更加方便；
Omni-λ200i系列
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2024-05-20
3572
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